RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡

*jin的微米技术实现了具有 16 种不同宽度（3 至 50μm）的高精度线对分辨率测试卡。 当今，微焦点成为主流的 X 射线光束尺寸，而分辨率测试卡则是调整、设置、检查和维护 X 射线系统的必要工具。

规格尺寸：40 x 30 mm, 3mm 厚度

硅基：8 x 8 mm, 0.2mm 厚度

吸收材料：金，厚度≥1.0μm

保护膜：铝蒸汽保护膜，厚度 0.1mm

线数：3 线（只有 3-10μm：6 线）

线条宽度（线条与间距宽度相同）：

T 型布局 3、4、5、6、7、8、9、10μm；
Ｉ型布局 15、20、25、30、35、40、45、50μm

线对宽度公差：±10%

工作温度：+10℃至+70℃