品牌普赛斯仪表 | 有效期至长期有效 | 最后更新2024-06-21 14:55 |
工作环境25±10℃ | 测试范围0~300V/0~1A | 测试精度0.1% |
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S型源表应用之microled电性能IV测试
LIV 即光电特性,是验证激光二 管、探测器性能的普遍的方法。在晶圆、切割、管芯、封装后老化测试过程中,为降低生产成本同时增加产品吞吐量,快速可靠的LIV测试系统对制造光电器件的工厂是很重要的。
根据Laser Diode工作原理,通常技术人员要用到电流源来驱动 LD 工作,产生光的同时用光功率计测量光功率来完成LIV特性测试。在不同的测试阶段例如Chip 测试,技术人员将电流源、电压表、电流表、开关、同步触发单元、光功率计集成起来才能完成测试,同时老化测试前后需要将每个管芯或模块的测试数据进行比对,大大增加了系统的复杂程度,影响了测试精度和数据可靠性。
S型源表应用之microled电性能IV测试认准武汉生产厂*普赛斯仪表,普赛斯仪表开发的LIV测试系统采用国产S型数字源表为核心,结合测试软件以及 三方设备积分球探测器完成LD的LIV测试。系统结构简单、精度高、可靠性好、速度快,提高生产效率的同时也增加了测试精度和可靠性,并且降低了测试成本。
需要测试的参数:
驱动电流I,正向压降Vf
光功率Po
阈值电流Ith
拐点Ikink,背光电流Idark
需要仪器列表:
S型国产源表
积分球
可变光源
软件
高校相关专业
微电子,材料专业
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