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德国IBA Type81型线对卡
产品简介：德国IBAtype81型线对卡型线对卡主要用于测试X射线机的高分辨率。量程：0.6-10.0LP/MM，组数26组。铅箔厚度为0.1mmPb 和 0.05mmPb两种, 尺寸为6555mm。
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2023-11-22 |
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RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡
日本JIMA RT CT-05B X射线微米分辨率测试卡*jin的微米技术实现了具有 16 种不同宽度（3 至 50m）的高精度线对分辨率测试卡。 当今，微焦点成为主流的 X 射线光束尺寸，而分辨率测试卡则是调整、设置、检查和维护 X 射线系统的必要工具。规格尺寸：40 x 30 mm, 3mm 厚度硅基：8 x 8 mm, 0.2mm 厚度吸收材料：金，厚度1.0m保护膜：铝蒸汽保护膜，厚度 0.1mm线数：3 线（只有 3-10m：6 线）线条宽度（线条与间距宽度相同）：T 型布局
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2023-11-22 |
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日本JIMA分辨率测试卡
日本JIMA分辨率测试卡JIMA（日本检测仪器制造商协会）致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。JIMA RT CT-01分辨率测试卡（专用于三维CT系统分辨率测试）测试卡封装在*个防护盒中图案布局：T型线/空间尺寸：5种规格图案3m, 4m, 5m, 6m, 7mJIMA RT CT-02分辨率测试卡测试卡封装在*个防护盒中盒子的外形尺寸（W x D x T）：40 x 3
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2023-11-22 |
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ISO19232-5双丝像质计
ISO19232-5双丝像质计射线图像几何不清晰度的测量标尺双丝像质计（德国）根据ISO19232-5/EN462-5/ASTM E2002标准生产，ISO19232-5/ EN462-5/ASTM E2002双丝像质计是由放置于刚性半透明塑料盒中的13个线对组成，双丝像质计丝的直径与丝与丝之间的距离相等，每个线对包含两条圆形截面的线。1D至3D线对是金属钨，其它线对是金属铂。双丝像质计用于确定射线照相和实时射线透照系统的几何不清晰度。双丝像质计IQI - 13D：线对从1D到13D
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2023-11-22 |
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德国IBA TYPE39c型 线对卡
德国IBA TYPE39c型线对卡，主要用于测试X射线机的高分辨率。量程：1.5-12LP/MM，组数14组。铅箔厚度为0.06mm, 尺寸为30x60mm.
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2023-11-22 |
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国产低对比度细节检测模体
低对比度细节检测模体TO-161.低对比度细节模体用于快速定量检测影像成像质量，可以用于X射线放射影像系统，CR系统(TO16);2.直径250mm，厚度10mm;圆板中有12组不同细节点，每组中有12个不同直径的细节点。144个细节点的对比度范围从0.0014到0.924(在75kV和1.5mm铜滤过的条件下)。TO-16低对比度细节检测模体特点：1、低对比度细节模体用于快速定量检测影像成像质量，可以用于X射线放射影像系统和CR系统；2、这些测试对象旨在快速定量
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2023-11-22 |
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CR/DR综合检测模体
CR/DR综合检测模体适用于医用诊断X射线辐射源及CR/DR的低对比度分辨力、空间分辨力、射野与光野*致性以及均匀性检测。满足JJG1078-2012《医用数字摄影（CR、DR）系统X射线辐射源》检定规程的要求。
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2023-11-22 |
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CBCT多功能测试模体
产品简介用于拍片、数字X射线成像系统和透视系统检测。可以检测光野/射野*致性、空间分辨力、低对比度分辨力、动态范围和图像*致性等项目。主要技术参数：1、模体功能外形尺寸300x300x18.5mm2、基板厚度1.5mm，300x300mm3、空间分辨力0.6-5.0Lp/mm，0.1mmPb4、低对比度分辨力12个内径10mm圆孔，范围0.5-7.6%，精度0.01mm动态范围17个铜阶，范围1/16-16精度0.01mm5、确定辐射野大小和位置的标记
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2023-11-21 |
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